超聲波測厚儀特點：●適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。 ●可配備多種不同頻率，不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。 ●具有探頭零點校準、兩點校準功能，可對系統誤差進行自動修正。 ●已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度。 ●具有耦合狀態提示功能。

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詳細介紹

顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

測量范圍：（0.75～300）mm（鋼中），公制與英制可自由轉換；

聲速范圍：（1000~9999） m/s：

分辨率：0.1mm/0.01mm可選

示值精度：±（0.5%H+0.05）mm; H為被測物實際厚度

測量周期：單點測量時每秒鐘4次、掃描模式每秒鐘10次；

存儲容量：可存儲20組（每組zui多100個測量值）厚度測量數據

工作模式：具有單點測厚和掃描測厚兩種測厚工作模式

單位制：公制或者英制（可選）

工作電壓：3V（2節AA尺寸堿性電池）

持續工作時間：大于100h（不開背光時）

通訊接口：RS232，可與微型打印機或PC連接

外形尺寸：150mm×73mm×31 mm

整機重量：185g

超聲波測厚儀適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。

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